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J-GLOBAL ID：200903010384088059

電磁場解析装置、電磁場解析方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体

Inventor： 大海 学 ,  光岡 靖幸 ,  笠間 宣行 ,  加藤 健二 ,  前田 英孝 ,  新輪 隆
Applicant, Patent owner： セイコーインスツルメンツ株式会社
Agent (1)： 坂上 正明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000089453
Publication number (International publication number)：2001282767
Application date： Mar. 28, 2000
Publication date： Oct. 12, 2001
Summary：

【要約】【課題】 FDTD(Finite Difference Time Domain)法によって電磁場解析を行うとき、解析領域内に金属を含んでいても正しい計算を行うこと。【解決手段】 電磁場の更新をするための複素数係数を、解析領域への入射光周波数と、金属の入射光周波数に対応する複素屈折率と、金属の直流電位に対する導電率とから求めることで、金属を含む系での電磁場解析が高精度高信頼性をもって行われるようになる。

Claim (excerpt)：

解析領域の少なくとも一部に金属を含み、FDTD(Finite Difference Time Domain)法を用いて電磁場の伝播状態を解析する電磁場解析装置において、前記電磁場が複素数で表現され、前記電磁場の更新をするための複素数係数を、前記解析領域への入射光周波数と、前記金属の前記入射光周波数に対応する複素屈折率と、前記金属の直流電位に対する導電率とから求める手段を備えたことを特徴とする電磁場解析装置。

IPC (5)：

G06F 17/10 ,  G06F 17/50 612 ,  G11B 7/135 ,  G11B 7/22 ,  G01R 29/00

FI (5)：

G06F 17/10 Z ,  G06F 17/50 612 H ,  G11B 7/135 A ,  G11B 7/22 ,  G01R 29/00 Z

F-Term (14)：

5B046JA10 ,  5B056AA00 ,  5B056BB04 ,  5B056BB95 ,  5B056CC03 ,  5B056HH00 ,  5D119AA11 ,  5D119AA22 ,  5D119BA01 ,  5D119CA06 ,  5D119JA34 ,  5D119LB04 ,  5D119NA04 ,  5D119NA05