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J-GLOBAL ID：200903010442068756

質量分析計

Inventor： 高橋 利明 ,  雫石 賢一 ,  加藤 陽子 ,  千田 直人 ,  板東 智美 ,  遠山 和彦
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  日立計測エンジニアリング株式会社
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992018721
Publication number (International publication number)：1993217546
Application date： Feb. 04, 1992
Publication date： Aug. 27, 1993
Summary：

【要約】【目的】大気圧化学イオン化法から成る液体クロマトグラフ質量分析計において、試料成分由来のイオンを選択的に質量分析部に導入し、中性粒子などは排除することで高検出感度を得ると共に質量分析部の汚損を防止する。【構成】(7)内で生成したイオンは、(6)により方向性が与えられ(9)方向へ進む。イオンビームは(8)により集束され(9)を通過する。続いてイオンは、(10)を通過し(12)に到達するが、電荷を持たない中性粒子や移動相溶媒は、装置内壁や(10)に衝突し消滅する。(12)を通過したイオンは、(13)で集束され(14)で質量分散される。

Claim (excerpt)：

大気圧化学イオン化法からなる液体クロマトグラフ質量分析計において、大気圧化学イオン化イオン源内にレンズ電極に対し平行または角度を持たせてイオン押し出し電極を設けたことを特徴とする質量分析計。

IPC (3)：

H01J 49/10 ,  H01J 49/26 ,  G01N 27/62