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J-GLOBAL ID：200903010600219767

回転反応器の測定方式

Inventor： 斉藤 進 ,  木村 彰夫 ,  川島 潔 ,  稲次 稔
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Agent (1)： 阿部 龍吉 (外7名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993046517
Publication number (International publication number)：1994258327
Application date： Mar. 08, 1993
Publication date： Sep. 16, 1994
Summary：

【要約】【目的】 再現性の高い測光が可能な回転反応器の測光方式を提供することを目的とするものである。【構成】 ターンテーブル1の外周の円周上に複数の反応セル4を配置し、反応セル4を挟んで光源5と分光検出器6を配置して反応セルの光量を測定する回転反応器の測定方式であって、ターンテーブル1にエンコーダ3を連結し、エンコーダ3によりターンテーブル1の一定の変位を検出する毎に分光検出器6の信号を取り込んで積算して測定値を出力する。これにより、ターンテーブル1に速度ムラがあっても、再現性の高い測光が可能になる。

Claim (excerpt)：

ターンテーブルの外周の円周上に複数の反応セルを配置し、反応セルを挟んで光源と分光検出器を配置して反応セルの光量を測定する回転反応器の測定方式であって、ターンテーブルにエンコーダを連結し、エンコーダによりターンテーブルの一定の変位を検出する毎に分光検出器の信号を取り込んで積算して測定値を出力することを特徴とする回転反応器の測定方式。

IPC (3)：

G01N 35/00 ,  G01N 21/59 ,  G01N 35/04