塗膜検出方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：西川惠清 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999335073
Publication number (International publication number)：2001153803
Application date： Nov. 25, 1999
Publication date： Jun. 08, 2001
Summary：

【要約】【課題】塗膜の有無の判別及び塗膜の厚みの測定を高速で且つ高精度で行う。【解決手段】紫外線を吸収すると共に蛍光性を有する塗料を対象物1の表面に塗布する。紫外線を含む照明光を被検査対象である塗膜2に照射しながら、複数の特性の異なる撮像装置で撮像する。得られた複数の画像データに基づいて塗膜2の厚みを検出する。

Claim (excerpt)：

紫外線を吸収すると共に蛍光性を有する塗料を対象物の表面に塗布して塗膜を形成し、紫外線を含む照明光を対象物に照射しながら、複数の特性の異なる撮像装置で撮像し、得られた複数の画像データに基づいて塗膜の厚みを検出することを特徴とする塗膜検出方法。

IPC (2)：

G01N 21/64 , B05D 3/00

FI (2)：

G01N 21/64 F , B05D 3/00 D

F-Term (19)：

2G043AA03 , 2G043BA14 , 2G043CA07 , 2G043DA01 , 2G043EA01 , 2G043EA13 , 2G043FA01 , 2G043GA04 , 2G043GB18 , 2G043JA03 , 2G043KA02 , 2G043KA03 , 2G043LA03 , 2G043MA01 , 2G043NA01 , 4D075BB46Z , 4D075BB92Z , 4D075BB94Z , 4D075CA48

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

画面部材の検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-077409 Applicant：株式会社日立製作所, 日立デバイスエンジニアリング株式会社
UV樹脂検査計測方法および検査計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-038298 Applicant：松下電子工業株式会社
樹脂塗布シートの製造装置及び製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-296508 Applicant：東レ株式会社

Show all

Return to Previous Page