Pat
J-GLOBAL ID:200903010718682402
エネルギーサブトラクション方法および装置並びに記録媒体
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
柳田 征史 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000339859
Publication number (International publication number):2002152594
Application date: Nov. 08, 2000
Publication date: May. 24, 2002
Summary:
【要約】【課題】 放射線画像のエネルギーサブトラクション処理を行う際に、不要な構造物を除去し、特定構造物を適切に抽出する。【解決手段】 シートIP1,IP2,IP3における各画素毎の放射線量の対数値の差(対数線量差)と、各シートにおける平均減弱係数との関係をテーブルTとして記憶手段20に記憶しておく。テーブルTを参照して対数線量差から各シートについての平均減弱係数を求め、これを平均減弱係数の標準偏差に基づいて求められる係数により加重平均して、各シートについての重み付け係数をエネルギーサブトラクション処理時の重み付け係数として設定し、サブトラクション手段18においてエネルギーサブトラクション処理を行う。
Claim (excerpt):
同一被写体を透過したそれぞれエネルギー分布が互いに異なる放射線により得られた、少なくとも一部の画像情報が互いに異なる3以上の複数の放射線画像を表す複数の画像信号を代表する2つの画像信号に対して、相対応する画素についての信号間で前記各画像信号に所定の重み付け係数を乗じて減算を行って、前記被写体の特定構造物の画像を表す差信号を得るエネルギーサブトラクション方法において、前記複数の放射線画像を得た際の各放射線画像間の各画素における放射線量の対数値の差、または該各放射線画像間の各画素における放射線量の比の対数値に基づいて、前記複数の放射線画像からの前記対数値の差または前記比の対数値を求める2つの放射線画像を選択する各組み合わせ毎に、全ての前記放射線画像における平均減弱係数を該各放射線画像の前記各画素毎に設定し、前記全ての放射線画像について設定された平均減弱係数の前記各放射線画像毎の平均値を該各放射線画像の前記各画素毎に算出し、前記代表する2つの画像信号により表される放射線画像に応じた前記平均値の代表値を、該2つの画像信号に対する前記所定の重み付け係数として設定することを特徴とするエネルギーサブトラクション方法。
IPC (6):
H04N 5/325
, A61B 6/00 333
, G03B 42/02
, G06T 1/00 290
, G06T 3/00 400
, G06T 7/00 300
FI (6):
A61B 6/00 333
, G03B 42/02 B
, G06T 1/00 290 A
, G06T 3/00 400 A
, G06T 7/00 300 E
, A61B 6/00 350 S
F-Term (33):
2H013AC06
, 4C093AA01
, 4C093AA28
, 4C093CA50
, 4C093EB05
, 4C093FD01
, 4C093FD02
, 4C093FD03
, 4C093FD12
, 4C093FF34
, 5B057AA07
, 5B057BA03
, 5B057BA29
, 5B057CE09
, 5B057CH09
, 5B057DA08
, 5C024AX11
, 5C024AX17
, 5C024CY50
, 5C024DX04
, 5C024GX09
, 5C024HX29
, 5C024HX30
, 5L096BA06
, 5L096BA13
, 5L096CA04
, 5L096EA35
, 5L096EA39
, 5L096FA19
, 5L096FA32
, 5L096GA08
, 5L096GA53
, 5L096LA04
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