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J-GLOBAL ID：200903010751824638

視機能検査装置

Inventor： 濱野 隆久 ,  佐々木 徹
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 三澤 正義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992077280
Publication number (International publication number)：1993277073
Application date： Mar. 31, 1992
Publication date： Oct. 26, 1993
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、省スペース化と被検者の検眼態様の多様化を図れる視機能検査装置1を提供する。【構成】 本発明は、視標を表示する視力表表示手段8と、この視力表表示手段8の視標からの光束を所定の光路長をもって外部に向けて反射する内部反射系10とを検眼テーブル2に内蔵するとともに、前記内部反射系10からの光束を外部反射系及び視機能検査用の検眼手段6を介して被検者側に導く視機能検査装置1において、前記内部反射系10の光路長を所定の範囲で変化させる光路長変更手段を設けた。この構成により、5m検眼,3m検眼の双方を随時選択でき、省スペース化と被検者の検眼態様の多様化とを図ることが可能となる。

Claim (excerpt)：

視標を表示する視力表表示手段と、この視力表表示手段の視標からの光束を所定の光路長をもって外部に向けて反射する内部反射系とを検眼テーブルに内蔵するとともに、前記内部反射系からの光束を外部反射系及び視機能検査用の検眼手段を介して被検者側に導く検眼手段を備えた視機能検査装置において、前記内部反射系の光路長を所定の範囲で変化させる光路長変更手段を設けたことを特徴とする視機能検査装置。