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J-GLOBAL ID：200903010769275712

実験基板装置

Inventor： 森川 靖之
Applicant, Patent owner： 株式会社富士通ゼネラル
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001122297
Publication number (International publication number)：2002319776
Application date： Apr. 20, 2001
Publication date： Oct. 31, 2002
Summary：

【要約】【課題】 実験基板のサイズ及び枚数が変更されても、対応できる実験基板装置を提供する。【解決手段】 四囲に係止孔2aを穿設した実験基板2と、平板状に形成され鏡面状の上面を備えたベース1と、上端に円環状に形成された係止部4cを形成し、下端に挿入ピン4eを突設した円柱部4bと、円形状に形成され前記ベース1の鏡面状の上面に密着する吸盤部4aと、同吸盤部4aの上面に突設され前記挿入ピン4eが挿入される挿入孔を穿孔した座部4dとからなスペーサ4とで実験基板装置を構成する。

Claim (excerpt)：

平板状に形成されたベースと、四囲に係止孔を穿設した実験基板と、上端に前記係止孔に係止する係止部を、下端に前記ベースの上面に接合する接合部を夫々具備した円柱状のスペーサとからなり、前記係止部を前記係止孔に係止して前記実験基板に前記スペーサを装着し、同スペーサの前記接合部を前記ベースの上面に接合させることにより前記実験基板を前記ベースの任意位置に止着してなることを特徴とする実験基板装置。

IPC (2)：

H05K 7/14 ,  G01R 31/28

FI (4)：

H05K 7/14 G ,  H05K 7/14 C ,  G01R 31/28 H ,  G01R 31/28 S

F-Term (13)：

2G132AA09 ,  2G132AB20 ,  2G132AE21 ,  2G132AJ00 ,  2G132AL06 ,  2G132AL29 ,  2G132AL35 ,  5E348AA03 ,  5E348AA07 ,  5E348AA28 ,  5E348AA32 ,  5E348CC08 ,  5E348FF03