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J-GLOBAL ID:200903010781465144
漏れ試験の方法および装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
中村 稔 (外6名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995027847
Publication number (International publication number):1995286927
Application date: Feb. 16, 1995
Publication date: Oct. 31, 1995
Summary:
【要約】 (修正有)【目的】 不良な試験片の検出、密封試験片についてのトレーサーガスの漏れ速度の測定、試験を受けている試験片からのヘリウムトレーサーガスの検出のうち1つ以上を行う物品の漏れ試験のための方法および装置を提供する。【構成】 本装置は排気可能な試験室1と、試験室の排気手段と、試験室と排気手段とを連結する導管手段と、導管4を通る流れを制御する弁7、弁8と、捕捉容積部9と漏れ検出器6とで構成する。弁7を閉鎖し弁8を開放した状態で捕捉容積部を排気し、弁7と真空室との間に位置する第1箇所と、弁8と排気手段との間に位置する第2箇所との間の差圧を測定し、差圧基準箇所を決定し、弁8を閉鎖して捕捉容積部を形成し、弁7を開放して捕捉容積部と真空室とを連通させ、第1箇所と第2箇所間の差圧を測定して差圧と差圧基準箇所とを比較し、第1箇所と第2箇所間の差圧の変化速度を測定し、漏れ試験を行う。
Claim (excerpt):
物品の漏れ試験を行うための方法であって、排気可能な試験室を提供し、試験室を排気するための手段を提供し、試験室と排気手段とを連結する導管手段を提供し、導管を通る流れを制御するため、試験室に近接して第1弁手段を、排気手段に近接して第2弁手段を提供し、導管手段と関連した捕捉容積部が、第1弁手段と第2弁手段との間に構成され、第1弁手段が閉鎖し第2弁手段が開放した状態で、捕捉容積部を排気し、第1弁手段と真空室との間に位置する第1箇所と、第2弁手段と排気手段との間に位置する第2箇所との間の差圧を測定する手段を提供し、第1箇所と第2箇所との間の差圧を測定し、かつ、差圧基準箇所を決定し、第2弁手段を閉鎖して捕捉容積部を形成し、第1弁手段を開放して捕捉容積部と真空室とを連通させ、第1箇所と第2箇所との間の差圧を測定して該差圧と差圧基準箇所とを比較し、第1箇所と第2箇所との間の差圧の変化速度を測定し、引き続き捕捉容積部と真空室とを連通させ、真空室および導管手段の一層の排気およびパージを可能にするため、第2弁手段を開放する、ことを含むことを特徴とする方法。
IPC (4):
G01M 3/00
, G01M 3/20
, G01M 3/26
, G01M 3/32
Patent cited by the Patent:
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