Pat

J-GLOBAL ID：200903010854180577

見当ずれ量検出方法

Inventor： 滑 俊二
Applicant, Patent owner： 大日本印刷株式会社
Agent (1)： 小西 淳美
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994333561
Publication number (International publication number)：1996169103
Application date： Dec. 16, 1994
Publication date： Jul. 02, 1996
Summary：

【要約】【目的】印刷用紙に印刷された極めて小さな見当マークから見当ずれ量を検出することのできる見当ずれ量の検出方法を提供する。【構成】走行印刷物の走行方向と直角方向に一次元に配列された複数の受光素子から成る受光素子アレイによって矩形状のマークを検出し、受光素子の各々から個別に出力信号を得るマーク検出過程と、前記マークを検出し縦位置検出信号を演算出力する縦位置演算過程と、前記マークを検出し横位置検出信号を演算出力する横位置演算過程と、2つのマークの縦位置検出信号から相対的ずれ量である縦見当ずれ量を演算する縦ずれ演算過程と、前記2つのマークの横位置検出信号から相対的ずれ量である横見当ずれ量を演算する横ずれ演算過程と、から成る見当ずれ量検出方法。

Claim (excerpt)：

2つの印刷過程で走行印刷物の走行方向に所定の間隔をおいて印刷された2つの矩形状のマークが通過する領域を、前記走行印刷物の走行方向と直角方向に一次元に配列された複数の受光素子から成る受光素子アレイによって検出し、前記受光素子の各々から個別に出力信号を得るマーク検出過程と、前記出力信号から、前記走行印刷物の走行方向と直角な前記マークの辺を検出し縦辺検出信号を演算出力する縦辺演算過程と、各受光素子の出力信号を最大レベルと最小レベルの間の複数の中間レベルに区分するとともに、前記中間レベルを含む受光素子の出力信号と各受光素子の配列とから前記走行印刷物の走行方向と平行な前記マークの辺の位置を各受光素子の配列幅よりも小さな前記区分に相当する単位の幅で検出し、横位置検出信号を演算出力する横位置演算過程と、前記2つのマークについての2つの縦辺検出信号から、2つのマークの縦辺の縦基準距離からの相対的ずれ量である縦見当ずれ量を演算する縦ずれ演算過程と、前記2つのマークについての2つの横位置検出信号から、2つのマークの横辺の横基準距離からの相対的ずれ量である横見当ずれ量を演算する横ずれ演算過程と、から成ることを特徴とする見当ずれ量検出方法。

IPC (3)：

B41F 33/14 ,  B65H 7/10 ,  B65H 43/08

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平3-026547
  
• 特開昭60-183507
  
• 特開平3-026547
  
• 特開昭60-183507