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J-GLOBAL ID：200903010873941090

材料健全性評価装置

Inventor：
李 政律

About 李 政律

, 
津田 浩

About 津田 浩


Applicant, Patent owner：
独立行政法人産業技術総合研究所

About 独立行政法人産業技術総合研究所


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006066290
Publication number (International publication number)：2007240447
Application date： Mar. 10, 2006
Publication date： Sep. 20, 2007
Summary：
【課題】超音波及びAE検出を利用した検出感度のすぐれたファイバを超音波伝搬路として利用する材料健全性評価装置を実現する。【解決手段】圧電超音波発振子4と、圧電超音波発振子4に一端が取り付けられた超音波ガイド光ファイバ2と、被検体5に伝達された超音波の伝搬状況を測定する測定手段とから成る材料健全性評価装置であり、圧電超音波発振子4は、発生した超音波を上記超音波ガイド光ファイバ2に伝達させ、超音波ガイド光ファイバ2は、その一部が健全性評価対象となる被検体5の内部または表面に取り付けられ、超音波は被検体5に伝達するものであり、 測定手段は、超音波の伝搬状況により被検体5中の欠陥の存在の有無を検査可能とする。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
圧電超音波発振子と、該圧電超音波発振子に一端が取り付けられた超音波ガイド光ファイバと、被検体に伝達された超音波の伝搬状況を測定する測定手段とから成る材料健全性評価装置であって、 前記圧電超音波発振子は、発生した超音波を上記超音波ガイド光ファイバに伝達させ、 該超音波ガイド光ファイバは、その一部が健全性評価対象となる被検体の内部または表面に取り付けられ、前記超音波は被検体に伝達するものであり、 前記測定手段は、前記超音波の伝搬状況により被検体中の欠陥の存在の有無を検査可能とすることを特徴とする材料健全性評価装置。
IPC (3)：
G01N 29/04 ,  G01N 29/00 ,  G01N 29/14
FI (4)：
G01N29/08 ,  G01N29/00 501 ,  G01N29/14 ,  G01N29/04 504
F-Term (16)：
2G047AA06 ,  2G047AA07 ,  2G047BA01 ,  2G047BA05 ,  2G047BC07 ,  2G047CA01 ,  2G047CA02 ,  2G047CA04 ,  2G047CA07 ,  2G047EA08 ,  2G047EA10 ,  2G047EA11 ,  2G047GA02 ,  2G047GA03 ,  2G047GC00 ,  2G047GE01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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