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J-GLOBAL ID：200903010879827753

測距装置

Inventor： 引田 由加 ,  野中 修
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995283442
Publication number (International publication number)：1997127406
Application date： Oct. 31, 1995
Publication date： May. 16, 1997
Summary：

【要約】【課題】 本発明は、投受光レンズの間隔を短縮して装置の小型化、製造コストの低減化を実現すると共に、高い測距精度を有する測距装置を提供する。【解決手段】 発光素子17および受光素子18を有する測距装置において、電気部品が実装される基板19を具備し、この基板19の表面および裏面に発光素子17および受光素子18をそれぞれ配置する。

Claim (excerpt)：

発光素子および受光素子を有する測距装置において、電気部品が実装される基板を具備し、上記基板の表面および裏面に上記発光素子および受光素子をそれぞれ配置したことを特徴とする測距装置。

IPC (3)：

G02B 7/32 ,  G01C 3/06 ,  G03B 13/36

FI (3)：

G02B 7/11 B ,  G01C 3/06 A ,  G03B 3/00 A