Pat
J-GLOBAL ID:200903010905668936
X線検査装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
小野 由己男 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000335214
Publication number (International publication number):2002098653
Application date: Sep. 26, 2000
Publication date: Apr. 05, 2002
Summary:
【要約】【課題】 連続搬送される物品の検査を行うX線検査装置であって、検査結果の認識が容易な装置を提供することにある。【解決手段】 X線検査装置は、連続搬送される物品の不良検査を行う装置であって、X線照射器及びX線ラインセンサと、RAMあるいはHDDと、制御コンピュータと、LCDモニタ30とを備える。X線照射器及びX線ラインセンサは、X線を使って物品の状態を検出する。RAMあるいはHDDは、基準レベルを記憶する。制御コンピュータは、X線照射器及びX線ラインセンサによる検出レベルと基準レベルとの比較により、物品不良の有無を判断する。LCDモニタ30は、検出レベルに基づく値を、その値に対応する面積で表示することができ、基準レベル及び検出レベルに基づく値を表示する。
Claim (excerpt):
搬送される物品の状態をX線を用いて検査を行うX線検査装置であって、前記X線で物品の状態を検出するX線検出手段と、前記X線検出手段による検出レベルに基づき物品の状態を判断する判断手段と、前記判断手段による判断結果を出力する出力手段と、前記判断手段の判断基準となるしきい値を記憶した記憶部と、前記検出レベルに基づく値を、その値に対応する面積で表示する第1表示部と、前記しきい値及び前記検出レベルに基づく値を前記第1表示部に表示させる表示制御手段と、を備えたX線検査装置。
F-Term (16):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA02
, 2G001DA08
, 2G001FA01
, 2G001FA06
, 2G001GA04
, 2G001HA13
, 2G001JA09
, 2G001JA13
, 2G001JA20
, 2G001KA03
, 2G001LA01
, 2G001PA03
, 2G001PA11
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (8)
-
容器内物質識別方法および装置ならびに低放射能廃棄物燃焼方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-000705
Applicant:株式会社日立エンジニアリングサービス
-
修繕計画作成装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-004428
Applicant:株式会社建築修繕計画研究所, 株式会社レプロ
-
ごみ処理施設におけるごみ搬送装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-220427
Applicant:株式会社日立メディコ
-
表面欠陥検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-186799
Applicant:株式会社リコー
-
検査装置および半導体検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-131086
Applicant:株式会社リコー
-
ごみ処理施設におけるごみ搬送装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-221703
Applicant:株式会社日立メディコ
-
特開昭58-087312
-
特開昭57-156892
Show all
Return to Previous Page