表面プラズモンセンサー

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：柳田征史 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996233865
Publication number (International publication number)：1998078390
Application date： Sep. 04, 1996
Publication date： Mar. 24, 1998
Summary：

【要約】【課題】試料液中において疎に分布する物質を良好に分析可能な表面プラズモンセンサーを得る。【解決手段】プリズム10と、その一面に形成されて試料液11に接触させられる金属膜12と、光ビーム13を発生させる光源14とを設け、光ビーム13をプリズム10に通し、プリズム10と金属膜12との界面10aに対して表面プラズモンを発生させる入射角で入射させる。そしてこのとき、表面プラズモンの散乱光を散乱光検出器24によって検出する。

Claim (excerpt)：

プリズムと、このプリズムの一面に形成されて、試料に接触させられる金属膜と、光ビームを発生させる光源と、前記光ビームを前記プリズムに通し、該プリズムと金属膜との界面に対して、表面プラズモンを発生させる入射角で入射させる光学系と、前記表面プラズモンの散乱光を検出する散乱光検出手段とを備えてなる表面プラズモンセンサー。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

表面プラズモン共鳴を利用した測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-286189 Applicant：オリンパス光学工業株式会社, 理化学研究所
膜厚及び誘電率の測定装置及びその測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-006494 Applicant：富士通株式会社
非線形光学定数評価方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-218264 Applicant：株式会社日立製作所

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Cited by examiner (5)

表面プラズモン共鳴を利用した測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-286189 Applicant：オリンパス光学工業株式会社, 理化学研究所
膜厚及び誘電率の測定装置及びその測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-006494 Applicant：富士通株式会社
非線形光学定数評価方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-218264 Applicant：株式会社日立製作所

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