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J-GLOBAL ID:200903011113100122

3次元形状計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 深見 久郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991273808
Publication number (International publication number):1993113320
Application date: Oct. 22, 1991
Publication date: May. 07, 1993
Summary:
【要約】【目的】 縞走査を用いた格子パターン投影法を応用した3次元計測に汎用性を与えかつ高精度化する。【構成】 液晶ビジョン3により、計測対象物体面にその大きさあるいは形状に応じて、拡大,縮小投影あるいは格子縞ピッチを変更し、計測対象物体と液晶ビジョン3あるいは撮像カメラ2との相対位置を変更し、計測用コンピュータ6により演算し、任意の計測点における計測基準面1からの物体の高さが計測できる。
Claim (excerpt):
基準面に置かれた計測対象物体面に対し斜め方向より輝度分布が正弦波状の少なくとも形状を変更できる格子縞パターンを投影する手段と、格子縞パターンの投影方向とは別の角度から撮像する手段と、撮像した画面から得られたデータから計測対象物体の基準面からの高さを求める演算手段とを有する3次元形状計測装置。

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