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J-GLOBAL ID:200903011194046496

屈折率を測定する方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高木 千嘉 (外2名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1994523038
Publication number (International publication number):1996510831
Application date: Apr. 08, 1994
Publication date: Nov. 12, 1996
Summary:
【要約】ガス、液体または固体の試料、望ましくはガスまたは液体試料の屈折率を測定する方法において、開いた導波路(4)とこれに隣りあって位置する閉じた導波路(5)を包含する導波路共振子(1)が使用される。導波路に近接する囲繞物に影響を与えそれによって導波路の有効屈折率に影響を与えるように、試料が閉じた導波路(5)の近傍におかれる。光源(9)から導かれる光は開いた導波路(4)の一端に結合し、そして透過光を開いた導波路の他端で測定して共振波長に対する試料の影響を確定し、そしてそれによって試料の屈折率または試料と関連づけられる屈折率の差を測定する。この方法を実施するためのデバイスには、導波路共振子の閉じた導波路(5)に隣りあう試料接触領域(12)を有する導波路共振子を包含する。
Claim (excerpt):
閉じた導波路(15,15)に近接する囲繞物に影響を与えそれによってこの導波路の有効屈折率に影響を与えるために、開いた導波路(4,16)とこれに隣りあって位置する閉じた導波路(5,15)とを包含する導波路共振子(1)の閉じた導波路(5,15)に隣りあってガス、液体または固体の試料、望ましくはガスまたは液体試料をおき;光源(9)からの光を開いた導波路(4,16)の一端へと結合しそして開いた導波路の他端において、透過される光を測定し;そして試料の屈折率または試料と関連づけられる屈折率の差を測定するように共振波長に対する試料の影響を確定することを特徴とする、上記試料の屈折率を測定する方法。

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