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J-GLOBAL ID:200903011254202999

眼の角膜プロファイルを測定する方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 山川 政樹
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2003535633
Publication number (International publication number):2005505372
Application date: Oct. 01, 2002
Publication date: Feb. 24, 2005
Summary:
本発明の1つまたは複数の実施形態により、眼の角膜の厚さプロファイルを決定する方法および装置を提供する。特に、本発明の一実施形態は、角膜の診断機器であって、(a)プラシド・リング像を角膜上に投影して、反射プラシド・リング像を生成するように配置されたプラシド・リング照明器、(b)スリット光束を角膜上に投影して、スリット光束の像を生成するように配置された複数のスリット・ランプ投影機、(c)反射プラシド・リング像とスリット光束の像を検出するために光学的に配置されたカメラ・システム、(d)制御装置を備え、その制御装置は、スリット・ランプ投影機、プラシド・リング照明器、カメラ・システムに結合されて、スリット光束の像と反射プラシド・リング像を所定のシーケンスで生成して検出し、その検出した反射プラシド・リング像と検出したスリット光束の像に応じて、角膜の厚さプロファイルを決定する。
Claim (excerpt):
プラシド・リング像を角膜上に投影して、反射プラシド・リング像を生成するように配置されたプラシド・リング照明器と、 スリット光束を前記角膜上に投影して、スリット光束の像を生成するように配置された複数のスリット・ランプ投影機と、 前記反射プラシド・リング像と前記スリット光束の像を検出するために光学的に配置されたカメラ・システムと、 前記スリット・ランプ投影機、前記プラシド・リング照明器、前記カメラ・システムに結合されて、前記スリット光束の像と反射プラシド・リング像が、所定のシーケンスで生成され検出されるようにする制御装置とを備え、前記制御装置が、前記検出した反射プラシド・リング像と前記検出したスリット光束の像に応じて、前記角膜の厚さプロファイルを決定する角膜の診断機器。
IPC (2):
A61B3/10 ,  A61B3/12
FI (3):
A61B3/10 H ,  A61B3/12 D ,  A61B3/12 G
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 眼科装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2001-323354   Applicant:株式会社トプコン
  • 前眼部撮影装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-034036   Applicant:株式会社ニデック
  • スリットプロジェクタ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2000-235780   Applicant:オクルスオプティクゲレーテゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング

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