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J-GLOBAL ID:200903011301522603

超音波診断装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 波多野 久 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992008548
Publication number (International publication number):1993192331
Application date: Jan. 21, 1992
Publication date: Aug. 03, 1993
Summary:
【要約】【目的】本発明の目的は、製造組立工程における構成機器の調整が容易であり、回路構成を簡素化することが可能な超音波診断装置を提供することにある。【構成】本発明に係る超音波診断装置は、複数個の振動子A1 〜An を有する超音波プローブ1から超音波を送信し、前記プローブ1で被検体による超音波の反射信号を受信し、この受信信号から断層像を形成する超音波診断装置において、遅延処理回路5a内の遅延線10aの各タップ毎の遅延時間のばらつきを、超音波の音場に影響を与えない範囲に細分化してランク別に設定するとともに、上記細分化したランクを代表する遅延時間データS4 と、超音波プローブ1の型式を規定するプローブ識別信号S2 とから超音波ビームの偏向に最適な遅延時間を与えるディレイデータを計算するディレイデータ計算回路6aを設けたことを特徴とする。
Claim (excerpt):
複数個の振動子を有する超音波プローブから超音波を送信し、前記プローブで被検体による超音波の反射信号を受信し、この受信信号から断層像を形成する超音波診断装置において、遅延処理回路内の遅延線の各タップ毎の遅延時間のばらつきを、超音波の音場に影響を与えない範囲に細分化してランク別に設定するとともに、上記細分化したランクを代表する遅延時間データと、超音波プローブの型式を規定するプローブ識別信号とから超音波ビームの偏向に最適な遅延時間を与えるディレイデータを計算するディレイデータ計算回路を設けたことを特徴とする超音波診断装置。
IPC (3):
A61B 8/00 ,  G01N 29/22 506 ,  H04R 31/00

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