Pat

J-GLOBAL ID：200903011358469253

マイクロ分光分析方法およびその方法に用いるサンプル台

Inventor： 池田 昌彦 ,  内原 博
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991285566
Publication number (International publication number)：1993099813
Application date： Oct. 05, 1991
Publication date： Apr. 23, 1993
Summary：

【要約】【目的】溶液の拡散を制限させた状態で溶液中の溶媒を蒸発させて、溶液中の試料を拡がりの小さい厚みのあるものにして、サンプル台上の所定位置に整然と並べて形成し、試料が微小かつ微量の試料であっても高感度で、かつ、自動化が可能な状態で分析できるようにする。【構成】フッ素系樹脂の薄膜上にピンホールを形成し、このピンホール形成部位に溶液を滴下させて溶媒を蒸発させ、ピンホールを中心にして試料を凝縮させる。この試料に照射させた赤外線の反射スペクトルを基にして、例えば有機物の分析を行なう。

Claim (excerpt)：

サンプル台の赤外線反射部材に付されたフッ素系樹脂の薄膜上に、溶媒に試料を含ませた溶液の凝縮核となるピンホールを所定間隔を隔てて形成し、当該ピンホールの形成部位に前記溶液の微量を滴下させて溶媒の蒸発により試料を凝縮させ、この凝縮試料をサンプル台ごとマイクロ分光分析部に位置させて凝縮試料に赤外線を照射し、当該凝縮試料を通して赤外線反射部材から反射されたスペクトルを測定することを特徴とするマイクロ分光分析方法。

IPC (3)：

G01N 1/28 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/35

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭63-003244
  
• 特開昭59-032848
  
• 特開昭63-171342
  
• 特開平4-249736