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J-GLOBAL ID：200903011403103176

フーリエ分光計測装置

Inventor： 辻田 和宏
Applicant, Patent owner： 富士写真フイルム株式会社
Agent (1)： 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993088470
Publication number (International publication number)：1994300630
Application date： Apr. 15, 1993
Publication date： Oct. 28, 1994
Summary：

【要約】【目的】 被測定光を干渉計で干渉させ、その干渉による光の明暗を検出した信号をフーリエ変換して被測定光のスペクトルを計測するフーリエ分光計測装置において、測定光量を多く取り、そして安定性、信頼性を向上させる。【構成】 被測定光11をビームスプリッタ13により反射光11A、透過光11Bの2つの光束に分割し、反射光11Aの光路を超音波が横切るようにAOM16を配置し、このAOM16をドライブ回路17により、互いに周波数が異なる2種類の超音波を発するように駆動する。

Claim (excerpt)：

被測定光を2つの光束に分割した後、1つの光束に合成する光学系と、前記2つの光束のうちの一方を超音波が横切るように配置された音響光学素子と、この音響光学素子を、互いに周波数が異なる2種類の超音波を発するように駆動するドライバと、前記光学系により合成された1つの光束の光強度を検出する光検出器と、この光検出器の出力信号をフーリエ変換して前記被測定光のスペクトルを求める信号処理手段とからなるフーリエ分光計測装置。