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J-GLOBAL ID：200903011443210536

フェーズド・アレー・アンテナ校正方法

Inventor： チャールズ ダブリュ.シャボトン
Applicant, Patent owner： テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド
Agent (1)： 浅村 皓 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1990419328
Publication number (International publication number)：1994013813
Application date： Dec. 28, 1990
Publication date： Jan. 21, 1994
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 フェーズド・アレーの一般化モデルに基づき、かつアレーがオン・ラインである間に校正係数を動的に更新する。【構成】 校正係数を算出する自動信号処理技法を用い、アレーが位相状態制御関数によって特徴づけられる一般化モデルに基づく。移相素子の校正係数は、他の素子に帰し得る残留アパーチャ・レスポンスの見積りから導かれる位相レスポンス測定を用いて算出する。アレー50の各素子Φにつき、同位相Iおよび直角位相Qのアバーチャ・レスポンス測定値の第1組は、他の素子に帰し得る全IQアパーチャ・レスポンスのRIおよびRQ残留成分を見積るのに用いられる。これらの残留成分を用いて、IQアパーチャ・レスポンス測定値の第2の組Yは、選択された素子に帰し得る位相レスポンスの測定値に変換する。これらの位相レスポンス測定値から、信号処理装置54で校正係数φiを位相状態制御関数を用いて算出する。

Claim (excerpt)：

おのおの所定数の校正係数を有するN個の移相素子と、位相状態制御関数、 ΦJ=f(φi=1M’C), により特徴づけられる位相レスポンスとを備えるフェーズド・アレー・アンテナを校正する方法であって、アパーチャレスポンスを生じさせる校正信号をアンテナに入力する段階と、選択された移相素子に関し、他の素子に帰すると思われる残留アパーチャ・レスポンスを見積る段階と、前記残留アパーチャ・レスポンスを用いて選択された素子の位相レスポンスを測定する段階と、位相状態制御関数を用いて前記位相レスポンス測定値から選択された素子の校正係数を算出する段階とを含むことを特徴とする校正方法。