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J-GLOBAL ID：200903011466547899
ガス分析計
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993347514
Publication number (International publication number)：1995190930
Application date： Dec. 25, 1993
Publication date： Jul. 28, 1995
Summary：
【要約】【目的】 唯一つの光学ベンチによって同一成分を低濃度領域から高濃度領域まで幅広く精度よく測定することができる安価でコンパクトな赤外線ガス分析計を提供すること。【構成】 光源7と検出器11との間にセル長が異なる2つのセル1,2を互いに並列的に設けるとともに、光源7から検出器11との間の光路中に光チョッパ10を設け、サンプルガスSが両セル1,2に常時流れるようにし、高濃度測定時のみ、セル長が長いセル1側の光路中に光源7から検出器11に向かう光線を遮るよう構成した。
Claim (excerpt)：
光源と検出器との間にセル長が異なる2つのセルを互いに並列的に設けるとともに、光源から検出器との間の光路中に光チョッパを設け、サンプルガスが両セルに常時流れるようにし、高濃度測定時のみ、セル長が長いセル側の光路中に光源から検出器に向かう光線を遮るようにしたことを特徴とするガス分析計。
IPC (2)：
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