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J-GLOBAL ID：200903011471579170

画像信号処理装置及びその方法

Inventor：
近藤 浩

About 近藤 浩


Applicant, Patent owner：
国立大学法人九州工業大学

About 国立大学法人九州工業大学


Agent (1)： 丸山 英一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004263242
Publication number (International publication number)：2006080933
Application date： Sep. 10, 2004
Publication date： Mar. 23, 2006
Summary：
【課題】画質障害を起こすことなく、圧縮率を大幅に上げる画像信号処理装置及びその方法を提供。【解決手段】画像処理部2は、N×N画素の引き続くブロックからなる原画像信号を各ブロックの同一位置の画素を取り出して第1の画像、・・第nの画像からなる複数の画像に分解。分解された第1の画像からエッジ位置を検出し、第1の画像以外の画像からエッジ位置情報に対応した画素値を取得する。第1の画像から推定算出する画素値と取得した画素値との差分値を算出する。符号化処理部3は、差分値と、第1の画像とを取得して圧縮処理する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
入力された画像信号を画像処理する画像処理部と、画像処理された処理データを圧縮する符号化処理部と、該符号化処理されたデータを伸長する復号化処理部を備えた画像信号処理装置において、 前記画像処理部は、N×N画素の引き続くブロックからなる原画像信号を各ブロックの同一位置の画素を取り出して第1の画像、第2の画像・・・第nの画像からなる複数の画像に分解する分解処理部と、前記分解処理部で分解された画像のうち、第1の画像からエッジ位置を検出し、そのエッジ位置情報を取得するエッジ位置情報取得部と、前記分解処理部で分解された画像のうち、前記第1の画像以外の画像から前記エッジ位置情報取得部により取得したエッジ位置情報に対応した画素値をそれぞれの画像から取得する画素値取得部と、前記エッジ位置情報取得部により取得したエッジ位置情報に対応する第1の画像以外の画像の画素値を第1の画像から推定算出する画素値推定算出部と、前記画素値推定算出部で推定算出した画素値と、前記画素値取得部により取得した画素値との差分値を算出する差分値算出部とからなり、 前記符号化処理部は、該差分値算出部で算出された差分値と、前記分解処理部で分解された第1の画像とを取得して圧縮処理して処理データを生成し、 前記復号化処理部は、前記符号化処理部から伝送された前記処理データを符号化処理部と同じルールに基づいて伸長し、 更に前記画像処理部は、前記復号化処理部で伸長されたデータのうち、第1の画像から該第1の画像以外の画像を推定・作成する推定画像作成部と、前記推定画像作成部で作成された画像に、前記伸長されたデータのうちの差分値を前記作成された画像のエッジに加算する加算処理部と、該加算処理部で加算された画像と前記伸長された第1の画像を合成して、復元画像を作成する復元画像生成部とを備えることを特徴とする画像信号処理装置。
IPC (3)：
H04N 1/41 ,  G06T 9/00 ,  H04N 7/32
FI (3)：
H04N1/41 B ,  G06T9/00 ,  H04N7/137 Z
F-Term (34)：
5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CA18 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CB18 ,  5B057CG02 ,  5B057CG03 ,  5B057CH01 ,  5B057DC16 ,  5C059MA04 ,  5C059MB03 ,  5C059MB14 ,  5C059PP22 ,  5C059SS08 ,  5C059SS10 ,  5C059SS15 ,  5C059TA21 ,  5C059TC02 ,  5C059TC34 ,  5C059TC43 ,  5C059TD05 ,  5C059UA02 ,  5C059UA05 ,  5C059UA11 ,  5C078AA04 ,  5C078BA32 ,  5C078BA42 ,  5C078CA01 ,  5C078DA01 ,  5C078DA02 ,  5C078DB00
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (2)

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