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J-GLOBAL ID:200903011536772402
質量分析装置
Inventor:
,
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小林 良平
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000167139
Publication number (International publication number):2001343363
Application date: Jun. 05, 2000
Publication date: Dec. 14, 2001
Summary:
【要約】【課題】 イオン化室の内部状態を観察し易くする。【解決手段】 イオン化室11を内部に形成するチャンバ30に窓開口31を設け、内側面に撥水性コーティングを施した凸レンズを窓板として取り付ける。また、その窓板内側に向けて乾燥ガスを吹き出すガス供給管を配設する。これにより、外側から見たときに内部が拡大されて見えるのでプローブ15の微妙な位置調整が可能であるとともに、窓板の内側が曇るのを防止することができる。
Claim (excerpt):
試料液を略大気圧にあるイオン化室内に噴霧してイオン化し、そのイオンを質量分析部へ導入する質量分析装置において、前記イオン化室の壁面に透視窓を設けるとともに、該透視窓の窓板内面に乾燥ガスを吹き付けるためのガス供給手段を該イオン化室内部に配設したことを特徴とする質量分析装置。
IPC (2):
FI (3):
G01N 27/62 X
, G01N 27/62 F
, G01N 30/72 E
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