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J-GLOBAL ID：200903011584456547
プリント基板の検査方法および検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
土橋 博司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997086288
Publication number (International publication number)：1998282179
Application date： Apr. 04, 1997
Publication date： Oct. 23, 1998
Summary：
【要約】【課題】必要なプローブの本数を減らし、特別に細いプローブを用いる必要性を低下させ、高い位置精度を要求されるプローブの本数を減らすために、回路上の1本の信号線(これはプリント基板の1本のパターンに相当する)にプローブを1本立てるだけで、ベアボードの不良を検査できる方法および装置を提供することを目的とする。【解決手段】プリント基板のパターンに電気的に接続させるためのプローブと、前記プリント基板側の面が絶縁層で、反対側の面が導電層で形成された部材を用いて電子部品が実装されていないプリント基板を検査する方法において、前記プローブを前記プリント基板のあるパターンに当接させ、前記部材を該パターンの別の場所に当接させ、前記プローブと前記導電層の間のコンデンサ容量を測定することにより、該パターンの断線を検査することを特徴とする。
Claim (excerpt)：
プリント基板のパターンに電気的に接続させるためのプローブと、前記プリント基板側の面が絶縁層で、反対側の面が導電層で形成された部材を用いて電子部品が実装されていないプリント基板を検査する方法において、前記プローブを前記プリント基板のあるパターンに当接させ、前記部材を該パターンの別の場所に当接させ、前記プローブと前記導電層の間のコンデンサ容量を測定することにより、該パターンの断線を検査することを特徴とするプリント基板の検査方法。
IPC (3)：
G01R 31/02
, G01R 1/06
, G01R 31/28
G01R 31/02
, G01R 1/06 F
, G01R 31/28 K
