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J-GLOBAL ID：200903011590277824

構造物用検査装置

Inventor： 與本 雅彦 ,  畑野 達郎 ,  新井 淳一
Applicant, Patent owner： 株式会社ニコン ,  リテックエンジニアリング株式会社
Agent (1)： 渡辺 隆男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997297493
Publication number (International publication number)：1999132961
Application date： Oct. 29, 1997
Publication date： May. 21, 1999
Summary：

【要約】【課題】 構造物の劣化度合いを容易に抽出でき、作業の高能率化向上を図ることができる構造物用検査装置を提供することにある。【解決手段】 被検査物を複数に分割して撮像する撮像手段と、前記撮像手段1により撮像された複数画像データに、該画像データの各々に対応する位置情報や撮影情報を画像付加情報として付加された画像データを記憶する画像記憶手段5と、前記被検査物の所望の検査位置を指定することにより、前記画像記憶手段から前記付加情報に基づいて所望の画像データを選択し、該所望検査位置及びその周辺の複数の画像データとをつなぎ合わせ画像として表示する画像選択表示手段2とを備えた構成である。

Claim (excerpt)：

被検査物を複数に分割して撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像された複数画像データに、該画像データの各々に対応する位置情報や撮影情報を画像付加情報として付加された画像データを記憶する画像記憶手段と、前記被検査物の所望の検査位置を指定することにより、前記画像記憶手段から前記付加情報に基づいて所望の画像データを選択し、該所望検査位置及びその周辺の複数の画像データとをつなぎ合わせ画像として表示する画像選択表示手段とを備えたことを特徴とする構造物用検査装置。

IPC (2)：

G01N 21/88 ,  G06T 1/00

FI (2)：

G01N 21/88 J ,  G06F 15/66 470 J

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 建造物のリモートセンシング方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-126210   Applicant：株式会社大林組