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J-GLOBAL ID:200903011696286490
画素信号補正方法および装置並びにそれに使用する固体検出器
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
柳田 征史 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999339689
Publication number (International publication number):2000244824
Application date: Nov. 30, 1999
Publication date: Sep. 08, 2000
Summary:
【要約】【課題】 放射線固体検出器から読み出された画像信号のバラツキを補正する補正装置において、画像信号が飽和するような量(最大放射線量)のX線が照射されたときに、補正後の信号にバラツキが生じないようにする。【解決手段】 検出器1からX線を照射しない状態において画素信号S1を読み出し、この画素信号S1の値をオフセット補正値として補正テーブル16に記憶する。次いで検出器1に最大放射線量のX線を照射して、各画素信号S1の補正後の信号値S3の全てが、補正後の信号値として取り得る最大値となるようなゲイン補正値を求め、補正テーブル16に記憶する。次いで被写体を実際に撮影して画素信号S1を得、オフセット調整手段11,AGCアンプ12において補正テーブル16に記憶されているオフセット補正値とゲイン補正値とに基づいて画素信号S1のオフセットとゲインの補正を行う。
Claim (excerpt):
可視光または放射線を検出して各画素の信号値を表す各画素信号を得る固体検出器の前記各画素信号を補正する画素信号補正方法において、前記各画素信号の何れかが飽和レベルとなる光または放射線が前記固体検出器に照射されたとき、前記各画素信号の全てが、信号値として取り得る最大値となるように前記補正を行うことを特徴とする画素信号補正方法。
IPC (5):
H04N 5/335
, H04N 1/04
, H04N 1/19
, H04N 1/407
, H04N 5/32
FI (5):
H04N 5/335 P
, H04N 5/32
, H04N 1/04 E
, H04N 1/04 103 E
, H04N 1/40 101 B
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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画像読取装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-138515
Applicant:ミノルタ株式会社
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画像信号補正装置および方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-217307
Applicant:富士写真フイルム株式会社
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X線撮影ユニット、X線撮影装置及びX線撮影システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-283606
Applicant:キヤノン株式会社
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特開昭59-099300
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特開昭59-039159
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特開昭61-073479
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電子的撮像装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-170261
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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