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J-GLOBAL ID：200903011744549407

X線断層像撮影装置および方法

Inventor： 河合 浩之 ,  関原 謙介 ,  右田 晋一
Applicant, Patent owner： 株式会社日立メディコ
Agent (1)： 磯村 雅俊
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994161985
Publication number (International publication number)：1996024251
Application date： Jul. 14, 1994
Publication date： Jan. 30, 1996
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 X線検出器の走査駆動部に対する偏位や検出器毎に生じる計測タイミングのずれに起因する投影データの誤差を補正し、画像再構成時の画質低下要因を除去する。【構成】 検出器d0〜d(Nb-1)がダンパ17によって走査機構部1に保持され、X線源2からファンビーム状X線3が計測期間中連続的に照射され、計測された投影データが、各検出器毎にマルチプレクサ5を介して順次読み出されるX線断層像撮影装置において、予め計測点配列(X線源2と検出器djの位置を示すパラメータの組)に基づいて補正用パラメータを計算し、メモリ22、23、24に保管しておく。このパラメータを用いてメモリ19に保管されている、計測された投影データを補正演算部20において補正し、それを再構成演算部6において再構成する。

Claim (excerpt)：

X線源および該X線源と被検体をはさんで対向する位置に配列された多数の検出器と、被検体を中心にX線源および検出器を回転させる走査駆動部と、X線を連続的に照射させ検出器列からの信号を順次読み出す機構と、検出器にて計測した、多方向からの投影データをもとに被検体内部のX線吸収系数の分布を再構成する演算手段とを備えた装置のX線断層像撮影方法において、順次読み出しにともなう各検出器の計測タイミングの遅れを含む時間的な誤差から計算される量を予め保管し、該計算量を用いて、計測された投影データにおける前記タイミング遅れを含む時間的な誤差による影響を補正することを特徴とするX線断層撮影方法。