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J-GLOBAL ID：200903011746578382

水準測量装置

Inventor： 森 厳彦
Applicant, Patent owner： 株式会社フジタ
Agent (1)： 野本 陽一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992217491
Publication number (International publication number)：1994042967
Application date： Jul. 24, 1992
Publication date： Feb. 18, 1994
Summary：

【要約】【目的】 水準測量において、各測点A,B間の高精度での測定可能距離を長くすると共に、夜間等暗い条件での測量も高精度で行う。【構成】 高さ方向移動自在な水準調整体12と、これに固定された三角プリズム14及び水平反射鏡15と、スタッフ本体11の下部に固定された鉛直反射鏡16とを備える反射スタッフ10を既知点Aと未知点Bに立て、水準調整体12によって三角プリズム14及び水平反射鏡15の高さを光波測距機30の水平光路L1 ,L2 の水準と一致させ、光波測距機30によって、三角プリズム14を通って鉛直反射鏡16に至る距離D1 ,D3 を検出すると共に、水平反射鏡15までの水平距離D2 ,D4 を検出し、既知点Aと未知点Bの高低差Hを、H=(D3 -D4 )-(D1 -D2 )として求めることができる。

Claim (excerpt)：

所定の光波を水平に送受波して未知の距離間における波数及び位相差から距離を測定する光波測距機と、この光波測距機による任意の測点に立設する反射スタッフとからなり、この反射スタッフは、スタッフ本体に高さ方向移動自在に設けた水準調整体と、前記水準調整体に固定されると共に水平に入射された光波を鉛直方向に、鉛直に入射された光波を水平方向に反射する三角プリズムと、前記水準調整体に固定されると共に前記光波を再び前記光波測距機へ反射する水平反射鏡と、前記スタッフ本体の下部に固定されると共に前記三角プリズムからの鉛直な光波を入射して再び前記三角プリズムへ反射する鉛直反射鏡と、を備えることを特徴とする水準測量装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭57-171209
  
• 特開昭63-279190
  
• 特開昭57-171209
  
• 特開昭63-279190