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J-GLOBAL ID:200903011749386743

光ファイバ変位センサ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 京本 直樹 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993156498
Publication number (International publication number):1995012514
Application date: Jun. 28, 1993
Publication date: Jan. 17, 1995
Summary:
【要約】【目的】狭い空間に直接挿入して測定面の変位を非接触で測定する。【構成】光源1から伝送される光の出射端面を光軸方向に対して45度傾けて切断した投光用端面2を有し光源1からの光を投光用端面2で反射し光軸方向に対して垂直に測定面3に投光する投光用光ファイバ4と、先端部が投光用光ファイバ4と平行に配置されかつ投光用光ファイバ4の出射端に隣接した端部に軸方向に対して45度傾けて切断した受光用端面5を有し測定面からの反射光を軸に対して垂直に受光し受光用端面5で反射して光検出器7に伝送する受光用光ファィバ6とで構成される。【効果】軸に対して垂直な方向に投光および受光することが可能となるため、先端部を狭い空間に直接挿入して変位を測定することができる。
Claim (excerpt):
光源と、先端に光軸に対し45度傾けた投光用端面を設けた投光用光ファイバと、先端部が前記投光用光ファイバの先端部に平行に配置され先端に光軸に対し45度傾けた受光用端面を設けた受光用光ファイバと、光の強度を検出する光検出器とを含み、前記光源からの光を前記投光用光ファイバで伝送し前記投光用端面で反射させて測定面に照射し、前記測定面からの反射光を前記受光用端面で反射させて前記受光用光ファイバで伝送し前記光検出器に入射することを特徴とする光ファイバ変位センサ。
IPC (2):
G01B 11/00 ,  G01C 3/06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開昭59-116505
  • 特開昭62-110103

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