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J-GLOBAL ID:200903011779301289

反射特性測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小谷 悦司 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001267255
Publication number (International publication number):2003075257
Application date: Sep. 04, 2001
Publication date: Mar. 12, 2003
Summary:
【要約】【課題】 被測定物の2次元画像を好適に得る。【解決手段】 測定制御部71により光源11,21,31が駆動され、演算処理部72により、それぞれ分光反射特性が求められ、これらを用いて測色値として三刺激値が求められる。次いで、演算処理部72により、第1照明部10による測色値に基づきハイライト方向の露光時間が算出され、第3照明部30による測色値に基づきシェード方向の露光時間が算出される。次いで、測定制御部71により、光源11が駆動されてハイライト方向の露光時間で撮像部50の撮像が行われ、光源31が駆動されてシェード方向の露光時間で撮像部50の撮像が行われる。
Claim (excerpt):
被測定物の測定域を少なくとも1つの特定方向から照明する照明手段と、この照明手段により照明された上記測定域からの反射光を受光し、当該測定域の反射特性を測定する反射特性測定手段と、上記測定域の2次元画像を撮像する撮像手段と、上記反射特性測定手段により上記反射特性の測定を行わせた後、上記撮像手段により上記測定域の撮像を行わせる測定制御手段と、上記反射特性の測定結果を用いて上記撮像手段の露光量を決定する露光量制御手段とを備え、上記測定制御手段は、上記露光量制御手段により決定された露光量で上記撮像手段により上記測定域の撮像を行わせるものであることを特徴とする反射特性測定装置。
F-Term (8):
2G020AA08 ,  2G020DA12 ,  2G020DA22 ,  2G020DA24 ,  2G020DA31 ,  2G020DA34 ,  2G020DA35 ,  2G020DA45
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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