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J-GLOBAL ID：200903011886666206

浮遊粒子測定装置

Inventor： 廣本 宣久
Applicant, Patent owner： 郵政省通信総合研究所長 ,  廣本 宣久
Agent (1)： 福田 武通 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997073454
Publication number (International publication number)：1998267828
Application date： Mar. 26, 1997
Publication date： Oct. 09, 1998
Summary：

【要約】【課題】流体中の微粒子を光学的に実時間で検出する浮遊粒子測定装置を提供する。【解決手段】流体を通すフロー管1の内壁の断面の大きさよりも小さい断面を有する枝管2を複数個設け、該枝管2の先端部に無反射光学窓を取付けて枝管内を密封すると共に、前記無反射光学窓に接して乱反射光吸収用カバーを配設し、該乱反射光吸収用カバーには光ビーム入射または出射穴を穿設すると共に散乱光検出器視野用穴を穿設する。

Claim (excerpt)：

流体を通すフロー管の内壁の断面の大きさよりも小さい断面を有する枝管を複数個設け、該枝管の先端部に無反射光学窓を取付けて枝管内を密封すると共に、前記無反射光学窓に接して乱反射光吸収用カバーを配設し、該乱反射光吸収用カバーには光ビーム入射または出射穴を穿設すると共に散乱光検出器視野用穴を穿設したことを特徴とする浮遊粒子測定装置。

IPC (3)：

G01N 15/14 ,  G01N 15/02 ,  G01N 21/53

FI (3)：

G01N 15/14 P ,  G01N 15/02 A ,  G01N 21/53 Z