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J-GLOBAL ID：200903011891113967

電子制御装置と試験装置の通信機構

Inventor： 香川 健一
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社
Agent (1)： 青山 葆 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992097692
Publication number (International publication number)：1993300200
Application date： Apr. 17, 1992
Publication date： Nov. 12, 1993
Summary：

【要約】【目的】 シリアル非同期通信機能を有する電子制御装置と、該電子制御装置の作動の確認等を行う試験装置を接続してデータの送受信を行う通信機構において、一つの電子制御装置に対して異なる通信方式の試験装置を接続することができるようにすること。【構成】 試験装置は、その試験装置の通信方式が全二重方式であるのか半二重方式であるのかによって異なる信号を出力する識別端子を備える。電子制御装置は、全二重方式用の送信手段及び受信手段と、半二重方式用の送信手段及び受信手段を備え、これら送信手段及び受信手段は識別端子の信号により選択される。上記識別端子の電圧信号は、上記ゲート手段及び通信用制御プログラムに入力され、試験装置の通信方式に適合する送信手段及び受信手段のみが外部接続端子と接続され、適合するプログラムが起動する。

Claim (excerpt)：

シリアル非同期通信機能を有する電子制御装置と該電子制御装置の作動確認等を行う試験装置とを接続して、データの送受信を行う通信機構であって、上記試験装置に、その試験装置の通信方式が全二重方式であるのか半二重方式であるのかによって異なる信号を出力する識別端子を備え、上記電子制御装置には、上記試験装置を接続すると識別端子の信号から通信方式を判断し、その試験装置との通信が可能となるように設定される通信回路を備えることを特徴とする電子制御装置と試験装置の通信機構。

IPC (3)：

H04L 29/14 ,  B60T 8/90 ,  H04L 5/14

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• ICカード
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-124018   Applicant：凸版印刷株式会社
• 特開昭61-075651