Pat
J-GLOBAL ID:200903011963261389

レーザーによって突き合せ溶接された金属薄板またはバンドの継ぎ目を品質管理する方法と装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 石田 敬 (外3名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2001541641
Publication number (International publication number):2003516860
Application date: Nov. 10, 2000
Publication date: May. 20, 2003
Summary:
【要約】本発明は、レーザーによって突き合せ溶接された金属薄板またはバンドの継ぎ目を品質管理する方法に関するものであって、溶接場所の周りに配置された少なくとも2つのセンサによって多数のセンサ測定がおこなわれる。センサデータは溶接継ぎ目の品質判定のための組み合わせおよび補正の測定データ処理装置に入力パラメータとして供給される。溶接結果の現実に忠実な分析を可能にする、溶接継ぎ目のほぼリアルタイムの品質管理のために、格納されているデータが入力パラメータとして、少なくとも2つのほぼ独立した、学習可能な人工ニューロンネットワークを含む、基本的に階層的なネットワーク構造を有する少なくとも1つの学習可能な人工ニューロンネットワークへ供給される。ネットワークネットワークネットワークさらに、第1の人工ニューロンネットワークは、少なくとも2つの独立した人工ニューロンネットワークを含む。第1の人工ニューロンネットワークには、データ前処理から結果が入力量として供給され、第2の人工ニューロン部分ネットワークには、第1の人工ニューロン部分ネットワークの結果が入力量として供給され、かつ少なくとも1つの人工ニューロンネットワークの結果が、品質管理のために利用される。
Claim (excerpt):
レーザーによって突き合せ溶接された金属薄板またはバンドの継ぎ目を品質管理する方法であって、 -その場合に溶接個所を中心に配置された少なくとも2つのセンサによって、多数のセンサデータが測定され、 -その場合にセンサデータは、溶接継ぎ目の品質判定するための統合して相関づける、少なくとも1つの測定データ処理へ入力量として供給され、 -その場合にセンサデータは、溶接場所に配置された、溶接プラズマを検出する少なくとも1つのセンサによって測定され、 -その場合にセンサデータは、溶接場所の後方に配置された、溶接継ぎ目の形状寸法を検出する少なくとも1つのセンサによって測定され、 -その場合に、相関づけて統合する測定データ処理の際に、少なくとも2つのセンサの多数のセンサデータが、それぞれ入力量として少なくとも1つのデータ前処理へ供給され、 -その場合にデータ前処理の結果は、センサデータを場所を等しくして参照するためにそれぞれメモリユニットに格納される、前記方法において、 -格納されているデータが入力量として、ほぼ階層的なネットワーク構造を有する少なくとも1つの学習可能な人工ニューロンネットワークへ供給され、 -ほぼ階層的なネットワーク構造を有する少なくとも1つの学習可能な人工ニューロンネットワークは、少なくとも2つのほぼ独立した、学習可能な人工ニューロン部分ネットワークから形成され、 -第1の人工ニューロン部分ネットワークは、少なくとも2つの独立した人工ニューロン部分ネットワークから形成され、 -第1の人工ニューロン部分ネットワークに、それぞれデータ前処理の結果が入力量として供給され、 -第2の人工ニューロン部分ネットワークに、第1の人工ニューロン部分ネットワークの結果が、入力量として供給され、かつ -少なくとも1つの人工ニューロン部分ネットワークの結果が、品質管理に利用されることを特徴とする継ぎ目を品質管理する方法。
IPC (8):
B23K 26/00 310 ,  B23K 26/00 ,  B23K 31/00 ,  G06F 17/60 106 ,  G06N 3/04 ,  G06N 3/08 ,  B23K101:18 ,  B23K101:30
FI (8):
B23K 26/00 310 A ,  B23K 26/00 310 F ,  B23K 31/00 A ,  G06F 17/60 106 ,  G06N 3/04 F ,  G06N 3/08 Q ,  B23K101:18 ,  B23K101:30
F-Term (6):
4E068BE00 ,  4E068CC00 ,  4E068CC01 ,  4E068CC03 ,  4E068DA14 ,  4E068DB01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
Show all

Return to Previous Page