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J-GLOBAL ID：200903012026953972

水分測定方法

Inventor： 内藤 智 ,  星 正人 ,  真下 悟
Applicant, Patent owner： 花王株式会社
Agent (1)： 羽鳥 修 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996006066
Publication number (International publication number)：1997196864
Application date： Jan. 17, 1996
Publication date： Jul. 31, 1997
Summary：

【要約】【課題】 皮膚等の深さ方向に誘電率分布を有する測定対象の特定深さにおける水分(水の濃度及びそれに寄与する水の運動性に関する情報)を、実用的な速度で、精度良く、しかも簡便に測定することが可能な、水分測定方法を提供すること。【解決手段】 所定の電気長を有する電極を測定対象の表面に接触させた後、該電極を通じて所定の入力信号を測定対象に入力し、該入力信号に対する反射信号を該電極を通じて測定し、測定した反射信号を周波数成分に分解することなく該反射信号の信号処理を行って該測定対象の表層の特定の深さに存在する水の誘電緩和時間及び誘電緩和強度を求め、該誘電緩和時間及び該誘電緩和強度に基づいて該測定対象の表層の特定深さの水分を求める。

Claim (excerpt)：

所定の電気長を有する電極を測定対象の表面に接触させた後、該電極を通じて所定の入力信号を測定対象に入力し、該入力信号に対する反射信号を該電極を通じて測定し、測定した反射信号を周波数成分に分解することなく該反射信号の信号処理を行って該測定対象の表層の特定の深さに存在する水の誘電緩和時間及び誘電緩和強度を求め、該誘電緩和時間及び該誘電緩和強度に基づいて該測定対象の表層の特定深さの水分を求めることを特徴とする水分測定方法。

IPC (3)：

G01N 22/00 ,  A61B 5/05 ,  G01N 22/04

FI (4)：

G01N 22/00 S ,  G01N 22/00 Y ,  A61B 5/05 B ,  G01N 22/04 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平2-110357
  
• 誘電緩和測定用電極
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-329607   Applicant：花王株式会社