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J-GLOBAL ID：200903012074557973

X線CT装置

Inventor： ▲廣▼川 浩一
Applicant, Patent owner： 株式会社日立メディコ
Agent (1)： 秋本 正実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992112657
Publication number (International publication number)：1993305078
Application date： May. 01, 1992
Publication date： Nov. 19, 1993
Summary：

【要約】【目的】 スライス厚さ及びスキャン時間の切換段数を大幅に減らして、製造コスト及びスライス厚さ,スキャン時間の調整コストを減らしつつ、高画質の再構成画像を得られるようにする。【構成】 X線源2とX線検出器3を対向させてまま被検体4の周囲を移動させ、被検体4の断層面の各方向からのX線吸収データを計測,処理して前記断層面の再構成画像を得るX線CT装置において、同一のスライス厚さ、同一のスキャン時間による複数画像分の計測データ又は複数の再構成画像について加算平均演算する加算平均化回路17を設け、再構成画像のS/N比を高める。

Claim (excerpt)：

X線源とX線検出器を対向させて配置すると共に被検体の周囲を移動させ、前記被検体の断層面の各方向からのX線吸収データを計測,処理して前記断層面のX線吸収係数の分布を示す画像の再構成を行うX線CT装置において、同一のスライス厚さ、同一のスキャン時間による複数画像分の計測データ又は複数の再構成画像について加算平均演算する加算平均化回路を具備することを特徴とするX線CT装置。