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J-GLOBAL ID：200903012087180232
灯台式センサでの計測による仮想点位置推定方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
杉村 暁秀 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992000939
Publication number (International publication number)：1993180634
Application date： Jan. 07, 1992
Publication date： Jul. 23, 1993
Summary：
【要約】【目的】 灯台式センサで対象物の断面形状を表す計測点の点列データを求める際に対象物表面の向きや汚れ等に起因する受光量の不足によって幾つか計測点の抜け落ちが生ずるような場合でも、充分な数の計測点を用いて直線近似を行うようにして、対象物表面の実際の断面形状に対する計測点の点列が表す断面形状の誤差を減少させ、仮想点位置の推定精度を向上させることを目的とする。【構成】 灯台式センサで対象物の表面を断続的に走査することにてその表面の断面形状を計測して求めた計測点の点列から、二本の直線を近似により定めて、それらの直線の交点を求めることにより仮想点の位置を推定するに際し、前記点列中における計測点の欠落を調査して、その欠落が所定程度以上の場合には、前記灯台式センサの位置を変更した後にその灯台式センサで前記対象物表面の再走査を行って、再度計測点の点列を求めることを特徴とするものである。
Claim (excerpt)：
灯台式センサで、計測光の方向を少しずつ変えることにより対象物の表面を断続的に走査して、三角測量の原理によりその表面の断面形状を計測して求めた計測点の点列から、二本の直線を近似により定めて、それらの直線の交点を求めることにより仮想点の位置を推定するに際し、前記点列中における計測点の欠落を調査して、その欠落が所定程度以上の場合には、前記灯台式センサの位置を変更した後にその灯台式センサで前記対象物表面の再走査を行って、再度計測点の点列を求めることを特徴とする、灯台式センサでの計測による仮想点位置推定方法。
IPC (2)：
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