Pat
J-GLOBAL ID:200903012140714740

設計支援装置及び設計結果評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 志賀 正武 ,  渡邊 隆
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002237120
Publication number (International publication number):2004078501
Application date: Aug. 15, 2002
Publication date: Mar. 11, 2004
Summary:
【課題】複数の要求仕様を設計結果が満足しているか否かを正確かつ短時間で判断する。【解決手段】要求仕様に基づいて設計された設計対象の設計結果を解析装置A1〜Amを用いて解析することにより検証して設計対象の設計業務を遂行する際に当該設計業務の遂行を支援する設計支援装置であって、設計対象に関する複数の前記要求仕様を記憶する記憶手段DBと、解析装置A1〜Amによって解析結果が得られると、当該解析結果を対応する要求仕様と比較することにより解析結果が要求仕様を満足するか否かを自動判定する判定手段Sと、該判定手段Sの判定結果を出力する出力手段D1〜Dnとを具備する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
要求仕様に基づいて設計された設計対象の設計結果を解析装置(A1〜Am)を用いて解析することにより検証して設計対象の設計業務を遂行する際に当該設計業務の遂行を支援する設計支援装置であって、 設計対象に関する複数の前記要求仕様を記憶する記憶手段(DB)と、 前記解析装置(A1〜Am)によって解析結果が得られると、当該解析結果を対応する要求仕様と比較することにより解析結果が要求仕様を満足するか否かを自動判定する判定手段(S)と、 該判定手段(S)の判定結果を出力する出力手段(D1〜Dn)と を具備することを特徴とする設計支援装置。
IPC (1):
G06F17/50
FI (2):
G06F17/50 680Z ,  G06F17/50 604A
F-Term (4):
5B046AA00 ,  5B046CA03 ,  5B046JA07 ,  5B046KA05

Return to Previous Page