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J-GLOBAL ID：200903012315662900

レーザ追尾式座標測定機

Inventor： 豊田 幸司 ,  後藤 充夫 ,  中村 収 ,  谷村 吉久 ,  伊勢 徹 ,  真田 友宏
Applicant, Patent owner： 工業技術院長 ,  株式会社東京精密
Agent (2)： 工業技術院計量研究所長 (外1名) ,  松浦 憲三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994030116
Publication number (International publication number)：1995239217
Application date： Feb. 28, 1994
Publication date： Sep. 12, 1995
Summary：

【要約】【目的】プローブの交換を自動で行うことのできるレーザ追尾式座標測定機を提供する。【構成】レーザ追尾式の測定装置30を組み込んだレーザ追尾式座標測定機10に、プローブ自動着脱装置24、プローブストッカ36、及びプローブ交換のための駆動を制御するプローブ自動交換制御装置38を設けた。これにより、レーザ追尾式座標測定機10のプローブ交換を自動で行うことができる。

Claim (excerpt)：

座標測定機にレーザ追尾装置を組み込み、前記レーザ追尾装置でプローブの移動量を計数することによりワークの形状等を測定するレーザ追尾式座標測定機に於いて、前記プローブを支持するプローブ取付け軸の先端部に設けられ、プローブを自動で着脱するプローブ自動着脱装置と、前記プローブ自動着脱装置の移動範囲内に設けられ、各種のプローブを予め決められたプローブ交換位置にそれぞれ格納するプローブ格納装置と、前記プローブ自動着脱装置のプローブ交換位置への移動制御及びプローブの着脱制御、前記プローブ格納装置の取出し・格納制御等のプローブ交換のための駆動制御を行うプローブ自動交換制御装置と、を備えたことを特徴とするレーザ追尾式座標測定装置。

IPC (3)：

G01B 11/24 ,  G01B 9/02 ,  G01B 11/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開昭62-079306
  
• 特開昭60-224005
  
• 特開昭58-097614
  
• 特開昭62-079306
  
• 特表平2-502578