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J-GLOBAL ID：200903012316101643

隠蔽物体探査方法および装置

Inventor： 早川 秀樹 ,  上坂 進一
Applicant, Patent owner： 大阪瓦斯株式会社
Agent (1)： 北村 修一郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000316384
Publication number (International publication number)：2002181954
Application date： Oct. 17, 2000
Publication date： Jun. 26, 2002
Summary：

【要約】【課題】 隠蔽された物体の太さ、さらにその物体が金属管であるか、または非金属管であるかの判定に加えて、金属線が非金属管に入って構成された管であるかの判定が可能な隠蔽物体探査方法および装置を提供する。【解決手段】 隠蔽物体探査方法が、電磁波を送受信することのできる送受信アンテナの中心位置と物体を隠蔽している媒質表面とが直交する直交軸上に物体が存在するように送受信アンテナを配置し、送受信アンテナを直交軸周りに回転させながら、電磁波を物体に複数回放射すると共に物体からの反射信号を受信する送受信制御工程と、送受信アンテナの回転角またはその相当量と反射信号の反射時間とを座標軸とし、反射信号を強度分布として表示するための2次元データを生成する2次元データ生成工程と、2次元データを画像で表示する表示工程と、画像の強度分布を評価して、物体の特性を判定する判定工程とを含む。

Claim (excerpt)：

電磁波を送受信することのできる送受信アンテナの中心位置と探査対象とする被探査物体を隠蔽している媒質表面とが直交する直交軸上に前記被探査物体が存在するように前記送受信アンテナを配置し、前記送受信アンテナを前記直交軸周りに回転させながら、電磁波を前記被探査物体に複数回放射すると共に前記被探査物体からの反射信号を受信する送受信制御工程と、前記送受信アンテナの回転角またはその相当量と前記反射信号の反射時間とを座標軸とし、前記反射信号を強度分布として表示するための2次元データを生成する2次元データ生成工程と、前記2次元データを画像で表示する表示工程と、前記画像の強度分布を評価して、前記被探査物体の特性を判定する判定工程とを含む隠蔽物体探査方法。

IPC (2)：

G01V 3/12 ,  G01S 13/88

FI (2)：

G01V 3/12 B ,  G01S 13/88 G

F-Term (16)：

5J070AA14 ,  5J070AB01 ,  5J070AC03 ,  5J070AD02 ,  5J070AD15 ,  5J070AE11 ,  5J070AH33 ,  5J070AH50 ,  5J070AJ05 ,  5J070AJ14 ,  5J070AK13 ,  5J070AK28 ,  5J070BG02 ,  5J070BG03 ,  5J070BG09 ,  5J070BG12