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J-GLOBAL ID：200903012326162020

時間的反転による部材の工業的超音波検査方法及び装置

Inventor： リオネル・ベフイ ,  ナジエ・シヤクルン ,  アレクサンドル・マテイアス・フアンク ,  ジエラール・イブ・マンジユネ ,  フランソワ・ジヤン・ブユ
Applicant, Patent owner： ソシエテ・ナシオナル・デテユード・エ・ドウ・コンストリユクシオン・ドウ・モトール・ダヴイアシオン、“エス.エヌ.ウ.セ.エム.アー.”
Agent (1)： 川口 義雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993289534
Publication number (International publication number)：1994213874
Application date： Nov. 18, 1993
Publication date： Aug. 05, 1994
Summary：

【要約】【構成】 集束化していない超音波光束の送信及び返送されるエコーの受信後、時間的配置を反転させてこのエコー信号を再送する。【効果】 検査部材は回転運動するが、超音波変換器は1ピッチずつ直線運動し、その各移動は部材の全回転数に相当する。

Claim (excerpt)：

回転部材の超音波検査方法であり、前記部材の分析はこの部材のn個の領域のレベルで回転しながら実施され、a)変換器のマトリックスからの、前記部材の第一の分析領域への集束化していない超音波光束の放射と、b)前記マトリックスの各変換器による第一のエコー信号の受信と、受信した第一のエコー信号の時間的反転によって獲得された第一の活性信号の時間的配置及び形態の記憶と、c)(n-1)個の他の特定された分析領域に対するa)とb)工程の反復と、 d) b)工程であらかじめ特定され記憶されたこの領域に関する活性信号の、部材の第一の分析領域のレベルでの放射と、e)マトリックスの各変換器による第二のエコー信号の受信と、受信した第二のエコー信号の時間的反転によって獲得された第二の活性信号の新しい時間的配置及び形態の記憶と、f)(n-1)個の他のあらかじめ特定された分析領域に対する、d)とe)工程の反復との工程を含むことを特徴とする超音波検査方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平3-094743
  
• 特公昭58-018623