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J-GLOBAL ID：200903012455487947

溶射被膜の密着度検査方法及びその装置

Inventor： 内 田 邦 治 ,  古 川 康 広
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992020162
Publication number (International publication number)：1993215654
Application date： Feb. 05, 1992
Publication date： Aug. 24, 1993
Summary：

【要約】【目的】 溶射被膜の母材との密着状況を定量的にかつ精度良く測定することができるようにしたものを提供する。【構成】 溶射被膜1bの表面に打撃子4による打撃を与え、この打撃によって発生し溶射被膜1bの内部を伝播してくる圧力波を、溶射被膜1bの表面に常時接地して配置された測定子5に取付けられた測定子センサ7で受波し、この測定子センサ7で受波した圧力波のエネルギの大きさを介して溶射被膜の密着状況の判断を行うようにした。

Claim (excerpt)：

母材の表面に施した溶射被膜の該母材との密着度を検査する密着度検査方法において、前記溶射被膜の表面に打撃を与え、この打撃によって発生し溶射被膜の内部を伝播してくる圧力波を溶射被膜の表面で受波し、この受波した圧力波の持つエネルギの大きさを測定することを特徴とする溶射被膜の密着度検査方法。