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J-GLOBAL ID：200903012540081186

粉体の比誘電率の測定方法

Inventor： 脇野 喜久男 ,  湯川 克巳 ,  今川 俊次郎
Applicant, Patent owner： 株式会社村田製作所
Agent (1)： 深見 久郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992289850
Publication number (International publication number)：1994138076
Application date： Oct. 28, 1992
Publication date： May. 20, 1994
Summary：

【要約】【構成】 粉体6を、一定の間隔を置いて対向する1対の電極部材3,4の間に入れ、粉体6と空気との複合系において、粉体容積割合を0.35〜0.45に設定し、測定周波数を1MHz以上として、複合系の見掛けの比誘電率を測定し、その実測値を、対数混合則またはリヒトネッカロータの式に適用して、粉体の比誘電率を求める。【効果】 高い信頼性をもって、対数混合則またはリヒトネッカロータの式を適用して、粉体の比誘電率を求めることができる。

Claim (excerpt)：

一定の間隔を置いて対向する1対の電極が配置された容器内に、比誘電率を測定すべき粉体を入れ、前記1対の電極間に電圧を印加して、前記粉体と空気との複合系の見掛けの比誘電率を測定し、その実測値εを下式:log ε=v1 log ε1 +v2 log ε2 、またはεk =v1 ε1 k +v2 ε2 k (-1≦k≦1)ただし、ε1 :粉体の比誘電率ε2 :空気の比誘電率(=1)v1 :粉体の容積割合v2 :空気の容積割合に入れることにより、粉体の比誘電率ε1 を求める、粉体の比誘電率の測定方法において、前記1対の電極間にある前記粉体と空気との複合系における粉体容積割合が0.35〜0.45に設定されるとともに、前記1対の電極間に印加される電圧が1MHz以上の周波数を有するものとされることを特徴とする、粉体の比誘電率の測定方法。

IPC (2)：

G01N 27/22 ,  G01R 27/22