Pat

J-GLOBAL ID：200903012549402899

ディスク装置における外力補正方法

Inventor： 須田 勲
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 井桁 貞一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992248448
Publication number (International publication number)：1994103712
Application date： Sep. 18, 1992
Publication date： Apr. 15, 1994
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、例えば、MPUで制御される磁気ディスク装置の磁気ヘッドの位置決めを行うとき、磁気ヘッドからリード, ライト回路に信号を送るための伝送路であるフレキシブル印刷回路(FPC) により発生する外力の温度変化による補正方法に関し、外力補正値の誤差によるシークのセトリング時間の伸びや,シークエラーを少なくする。【構成】 ディスク装置内に設けられている温度センサからの温度をホールドした値と、一定周期でサンプリングした温度との差が、所定の±x度以上となった時点を検出したとき、MPUに割り込みを発生し、割り込まれたMPUで、各シリンダ位置での外力に対する補正量を測定し直して、サーボ定数?@を再作成するか、予め、設定されている各温度での、所定の温度変化に対する外力変化テーブル?Aを参照して、今回の割り込みを発生させた温度での、上記温度センサで検出された温度差±x度Cに対する外力補正量を求め、前回のサーボ定数?@に加減算して補正する。

Claim (excerpt)：

マイクロプロセッサ(14)で制御されるディスク装置(1) の磁気ヘッドをディスクの所定のシリンダ位置へ移動させて位置決めを行うときの外力補正方法であって、ディスク装置(1) 内に設けられている温度センサ(11)からの温度をホールドした値と、一定周期でサンプリングした温度との差が、所定の±x度以上となった時点を検出したとき、マイクロプロセッサ(14)に割り込みを発生し、割り込まれたマイクロプロセッサ(14)で、各シリンダ位置での必要とする外力に対する補正量を測定し直して、外力に対するサーボ定数 (?@) を再作成することを特徴とするディスク装置における外力補正方法。