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J-GLOBAL ID：200903012610221320

質量分析装置

Inventor： 山口 真一
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007191775
Publication number (International publication number)：2009025275
Application date： Jul. 24, 2007
Publication date： Feb. 05, 2009
Summary：

【課題】異なる個体から採取した同一部位の試料の比較を、分析担当者が煩雑な操作や面倒な判断を行うことなく効率よく行えるようにする。【解決手段】複数の試料の顕微観察画像に基づいて試料又はその中の特定の部位の形状を把握し、その形状が揃うように一方の画像を、移動、回転、拡大・縮小など、変形操作する(S2)。その変形操作情報に基づいて、同一座標を持つ微小領域に対する質量スペクトルデータの比較が可能となるように、変形させた画像に対応した微小領域の座標情報を変更する(S3)。その後に、同一座標の微小領域の質量スペクトルを比較するように主成分分析を行い、差異などに関する情報を取得する(S4)。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

試料上の所定の二次元範囲内に設定された複数の微小領域毎の質量分析を行って質量スペクトルデータを取得し、それを利用して質量分析イメージングを行う質量分析装置において、 a)試料に対する光学的な顕微観察画像又は該試料に対して取得された質量スペクトルデータに基づく二次元画像を利用して、試料全体又は該試料の中の特定部位の二次元的な形状を把握する形状把握手段と、 b)複数の試料について前記形状把握手段により把握された形状を用いて、その形状が一致するように少なくとも1つの試料に対する前記画像の変形操作を行う変形処理手段と、 c)前記変形処理手段による変形操作に応じて前記微小領域の位置情報を修正した上で、複数の試料に対して取得された質量スペクトルデータに基づいて、それら試料の相違性や類似性に関する比較を行う比較手段と、 を備えることを特徴とする質量分析装置。

IPC (1)：

G01N 27/62

FI (3)：

G01N27/62 V ,  G01N27/62 Y ,  G01N27/62 D

F-Term (17)：

2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041DA18 ,  2G041EA01 ,  2G041FA10 ,  2G041FA12 ,  2G041GA03 ,  2G041GA06 ,  2G041GA07 ,  2G041GA08 ,  2G041GA09 ,  2G041GA10 ,  2G041GA13 ,  2G041GA22 ,  2G041GA29 ,  2G041GA30 ,  2G041MA04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• レーザー照射質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-247134   Applicant：株式会社島津製作所, 大学共同利用機関法人自然科学研究機構, 国立大学法人大阪大学
• イメージング質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-346872   Applicant：国立大学法人大阪大学, 学校法人光産業創成大学院大学