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J-GLOBAL ID：200903012680104461

位相差測定装置

Inventor： 横井 豊明 ,  大和田 博
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Agent (1)： 渡辺 正康
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995221552
Publication number (International publication number)：1997061472
Application date： Aug. 30, 1995
Publication date： Mar. 07, 1997
Summary：

【要約】【目的】 回路規模が小さく、測定精度を向上させた位相差測定装置を実現する。【構成】 位相の異なる第1の信号、第2の信号の一対の信号を同時に取り込むと共に取り込んだ信号をディジタル信号に変換し互いの位相差を測定する位相差測定装置において、一対の信号を交互に選択する選択回路と、この選択回路の出力を取り込むサンプル・アンド・ホールド回路と、このサンプル・アンド・ホールド回路の出力をディジタル信号に変換するA/D変換器と、このA/D変換器の出力の内第1の信号の2つのサンプリング結果に基づき第2の信号のサンプリング時間に相当する第1の信号の位相を演算して、第2の信号の位相との位相差を求める位相差演算回路とを設ける。

Claim (excerpt)：

位相の異なる第1の信号、第2の信号の一対の信号を同時に取り込むと共に取り込んだ信号をディジタル信号に変換し互いの位相差を測定する位相差測定装置において、前記一対の信号を交互に選択する選択回路と、この選択回路の出力を取り込むサンプル・アンド・ホールド回路と、このサンプル・アンド・ホールド回路の出力をディジタル信号に変換するA/D変換器と、このA/D変換器の出力の内前記第1の信号の2つのサンプリング結果に基づき前記第2の信号のサンプリング時間に相当する前記第1の信号の位相を演算して、前記第2の信号の位相との位相差を求める位相差演算回路とを備えたことを特徴とする位相差測定装置。