Pat
J-GLOBAL ID：200903012753803657

超音波診断装置

Inventor：
神山 直久

About 神山 直久


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 鈴江 武彦 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998282614
Publication number (International publication number)：2000107185
Application date： Oct. 05, 1998
Publication date： Apr. 18, 2000
Summary：
【要約】【課題】本発明の目的は、リアルタイム性を重視して2次元画像を表示しながらも、走査断面の3次元的な位置情報を様々な形で有効に活用することにある。【解決手段】本発明の超音波診断装置は、被検体内部の断面を超音波ビームで走査することにより収集したエコー信号に基づいて断層像を生成するレシーバ部4と、この断層像上に関心点を表すマーカを指定する操作パネル21と、超音波ビームで走査する断面の位置を検出する位置検出装置24と、関心点の位置情報を記憶すると共に、この記憶した関心点の位置情報と位置検出装置24で検出した断面の位置情報とに基づいて、超音波ビームで走査する断面の位置が変更され、その変更された断面内に関心点が含まれるとき、変更された断面の断層像にマーカを合成する座標メモリユニット25とを具備する。
Claim (excerpt)：
被検体内部の断面を超音波ビームで走査することによりエコー信号を収集する手段と、前記エコー信号に基づいて2次元画像を生成する手段と、前記生成した2次元画像上に関心点を表すマーカを指定する手段と、前記関心点の位置情報を記憶する手段と、前記超音波ビームで走査する断面の位置を検出する手段と、前記記憶された関心点の位置情報と前記検出された断面の位置情報とに基づいて、前記超音波ビームで走査する断面の位置が変更され、その変更された断面内に前記関心点が含まれるとき、前記変更された断面の2次元画像にマーカを合成する手段とを具備したことを特徴とする超音波診断装置。
IPC (2)：
A61B 8/06 ,  G06T 1/00
FI (2)：
A61B 8/06 ,  G06F 15/62 390 D
F-Term (35)：
4C301AA02 ,  4C301CC01 ,  4C301DD01 ,  4C301DD06 ,  4C301EE13 ,  4C301GD02 ,  4C301JC13 ,  4C301KK08 ,  4C301KK12 ,  4C301KK13 ,  4C301KK16 ,  4C301KK27 ,  4C301KK30 ,  4C301KK31 ,  4C301LL02 ,  5B057AA07 ,  5B057BA05 ,  5B057BA24 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC03 ,  5B057CE08 ,  5B057CH11 ,  5B057DA07 ,  5B057DA16 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC05
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
  • 超音波及び核磁気共鳴複合診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-177400   Applicant：株式会社東芝
  • 超音波診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-129886   Applicant：株式会社日立メディコ
  • 超音波診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-313750   Applicant：株式会社日立メディコ
Cited by examiner (3)
  • 超音波及び核磁気共鳴複合診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-177400   Applicant：株式会社東芝
  • 超音波診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-129886   Applicant：株式会社日立メディコ
  • 超音波診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-313750   Applicant：株式会社日立メディコ

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM