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J-GLOBAL ID：200903012891788120

眼科測定装置

Inventor： 楠城 紹生
Applicant, Patent owner： 株式会社ニデック
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995337907
Publication number (International publication number)：1997149887
Application date： Nov. 30, 1995
Publication date： Jun. 10, 1997
Summary：

【要約】【課題】 水晶体の各層の層分けが特定でき、各層に対する測定部位の把握を容易にでき、再測定時における測定部位の再現性を確保することができる。【解決手段】 被検眼前眼部に向けてレ-ザ光を収束させて投光するレ-ザ投光光学系と、該レ-ザ光による前眼部組織による散乱光を検出する散乱光検出光学系とを備える眼科測定装置において、被検眼にスリット光を投影するスリット投影光学系と、該スリット投影光により光切断された前眼部断面をシャインプル-クの原理に基づいて撮像する断面撮像手段と、該断面撮像手段による断面撮影像を表示する断面像表示手段とを備え、レ-ザ光の収束位置を前眼部断面像で観察可能であることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

被検眼前眼部に向けてレ-ザ光を収束させて投光するレ-ザ投光光学系と、該レ-ザ光による前眼部組織による散乱光を検出する散乱光検出光学系とを備える眼科測定装置において、被検眼にスリット光を投影するスリット投影光学系と、該スリット投影光により光切断された前眼部断面をシャインプル-クの原理に基づいて撮像する断面撮像手段と、該断面撮像手段による断面撮影像を表示する断面像表示手段とを備え、レ-ザ光の収束位置を前眼部断面像で観察可能であることを特徴とする眼科測定装置。

IPC (2)：

A61B 3/10 ,  A61B 3/12

FI (2)：

A61B 3/10 R ,  A61B 3/12 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-336028
  
• 特開昭63-197434
  
• 特開平3-060633