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J-GLOBAL ID:200903012928303091

パターン認識装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993048096
Publication number (International publication number):1994259564
Application date: Mar. 09, 1993
Publication date: Sep. 16, 1994
Summary:
【要約】【目的】 S/Nのよいパターン認識を行う。【構成】 本発明のパターン認識装置は、複数のパターンから第1のフーリエ変換を行ってフーリエ変換像を形成し、前記フーリエ変換像に第2のフーリエ変換を行ってパターンの相関値を求めるパターン認識装置であって、第2のフーリエ変換の結像面上に、前記相関値の強度を検出するための面積の異なる少なくとも2の検出器を備え、2の検出器の検出出力を比較して前記複数のパターンの一致の検出を行う。
Claim (excerpt):
複数のパターンから第1のフーリエ変換を行ってフーリエ変換像を形成し、前記フーリエ変換像に第2のフーリエ変換を行って前記パターンの相関値を求めるパターン認識装置であって、第2のフーリエ変換の結像面上に、前記相関値の強度を検出するための面積の異なる少なくとも2の検出器を備え、前記2の検出器の検出出力を比較して前記複数のパターンの一致の検出を行うパターン認識装置。
IPC (3):
G06F 15/70 460 ,  G02B 27/46 ,  G06K 9/74

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