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J-GLOBAL ID：200903012973383390

波長多重光増幅器の評価測定装置および方法

Inventor： 森 徹 ,  古賀 正文
Applicant, Patent owner： 安藤電気株式会社 ,  日本電信電話株式会社
Agent (1)： 志賀 正武 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996021517
Publication number (International publication number)：1997214035
Application date： Feb. 07, 1996
Publication date： Aug. 15, 1997
Summary：

【要約】【課題】 光増幅器の製造検査、納入検査、経年劣化の検査に際して測定者によって差を生じることなく、光増幅器の特性を簡便かつ高い精度で測定することができるとともに、多数の光増幅器を連続的に測定することができる光増幅器評価測定装置および方法を提供する。【解決手段】 各々波長の異なる複数の光源に対して強度変調を与え、各光源が発する光信号を合成して被測定光増幅器の入力に与え、被測定光増幅器から出力される光信号を光/電気変換手段で電気信号変換し、周波数弁別電力検出手段によって電気信号から各々異なる周波数毎の光変調電力ならびに各周波数から十分離間した帯域における雑音電力を検出し、被測定光増幅器の利得、ならびに雑音指数を導出する際の、各光源が有する相対強度雑音による影響を排除する。

Claim (excerpt)：

各々異なる波長の光信号を発生する複数の光源と、前記複数の光源に各々異なる周波数で強度変調を与える複数の発振手段と、前記複数の光源の各々が発生する各光信号を合成して被測定増幅器に多重光信号を供給する光合波手段と、前記被測定光増幅器が出力する光信号を電気信号に変換する光/電気変換手段と、前記電気信号が有する電力の周波数スペクトルを検出する周波数弁別電力検出手段とを具備し、前記複数の光源の各々は前記被測定光増幅器の上準位の原子寿命またはキャリア寿命より十分に速い周期の周波数で強度変調された光信号を発生し、前記周波数弁別電力検出手段は前記光源に前記強度変調を与える周波数毎の被測定光増幅器の入出力光の変調電力ならびに前記各周波数から十分離間した帯域における雑音電力を検出することを特徴とする波長多重光増幅器の評価測定装置。

IPC (3)：

H01S 3/10 ,  G01M 11/00 ,  G02F 1/35 501

FI (3)：

H01S 3/10 Z ,  G01M 11/00 T ,  G02F 1/35 501