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J-GLOBAL ID：200903013118401263

IC試験装置

Inventor： 小山 清明
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Agent (1)： 小沢 信助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993207428
Publication number (International publication number)：1995055892
Application date： Aug. 23, 1993
Publication date： Mar. 03, 1995
Summary：

【要約】【目的】 テストヘッドにおけるアナログ信号の減衰量を把握することにより、被試験対象の試験を精度よく行えるIC試験装置を実現することを目的にする。【構成】 本発明は、被試験対象に対してアナログ信号をテストヘッドを介して入力あるいは出力を行い、被試験対象の試験を行うIC試験装置に改良を加えたものである。本装置は、テストヘッドにおけるアナログ信号の減衰量を扱う周波数ごとに記憶する記憶部と、この記憶部の減衰量に基づいて、アナログ信号の振幅を扱う周波数に応じて調整する制御部と、を具備したことを特徴とする装置である。

Claim (excerpt)：

被試験対象に対してアナログ信号をテストヘッドを介して入力あるいは出力を行い、被試験対象の試験を行うIC試験装置において、前記テストヘッドにおけるアナログ信号の減衰量を扱う周波数ごとに記憶する記憶部と、この記憶部の減衰量に基づいて、アナログ信号の振幅を扱う周波数に応じて調整する制御部と、を具備したことを特徴とするIC試験装置。